LCP-27 भिन्नता तीव्रताको मापन

वर्णन

प्रयोगात्मक प्रणाली मुख्य रूपले धेरै भागहरू, जस्तै प्रयोगात्मक प्रकाश स्रोत, विवर्तन प्लेट, गहनता रेकर्डर, कम्प्युटर र अपरेशन सफ्टवेयर मिलेर बनेको हुन्छ। कम्प्युटर ईन्टरफेसको माध्यमबाट, प्रयोगात्मक परिणामहरू अप्टिकल प्लेटफर्मको लागि एक संलग्नकको रूपमा प्रयोग गर्न सकिन्छ, र यो एक्लो प्रयोगको रूपमा पनि प्रयोग गर्न सकिन्छ। प्रणालीसँग प्रकाश तीव्रता र उच्च शुद्धता विस्थापन सेन्सर मापनको लागि फोटोइलेक्ट्रिक सेन्सर छ। Grating शासक विस्थापन मापन गर्न सक्नुहुन्छ, र विघटन तीव्रताको वितरण को सही मापन गर्न सक्नुहुन्छ। कम्प्युटरले डाटा अधिग्रहण र प्रसंस्करण नियन्त्रण गर्दछ, र मापन परिणामहरू सैद्धांतिक सूत्रसँग तुलना गर्न सकिन्छ।

प्रयोगहरू

१. एकल स्लिटको टेस्ट, बहु स्लिट, सच्छिद्र र बहु ​​आयत विच्छेदन, प्रयोग भिन्नता संग विवर्तन तीव्रता को कानून

२.A कम्प्युटर एकल स्लिटको सापेक्ष तीव्रता र तीव्रता वितरण रेकर्ड गर्न प्रयोग गरिन्छ, र एकल स्लिट विसारनको चौडाई एकल स्लिटको चौडाई गणना गर्न प्रयोग गरिन्छ।

T. बहु स्लिट, आयताकार प्वालहरू र गोलाकार प्वालहरूको विघटनको तीव्रता वितरण अवलोकन गर्न

Single. एकल स्लिटको Fraunhofer विसारन अवलोकन गर्न

Light. प्रकाश गहनता को वितरण निर्धारित गर्न

निर्दिष्टीकरण