LEEM-3 इलेक्ट्रिक फिल्ड म्यापिङ उपकरण

छोटो वर्णन:

इन्जिनियरिङ प्रविधिमा, विद्युतीय क्षेत्रमा इलेक्ट्रोन वा चार्ज गरिएका कणहरूको गति नियम अध्ययन गर्न इलेक्ट्रोड प्रणालीको विद्युतीय क्षेत्र वितरण जान्न आवश्यक हुन्छ। उदाहरणका लागि, ओसिलोस्कोप ट्यूबमा इलेक्ट्रोन बीमको फोकसिङ र डिफ्लेक्शन अध्ययन गर्न, ओसिलोस्कोप ट्यूबमा इलेक्ट्रोडको विद्युतीय क्षेत्रको वितरण जान्न आवश्यक छ। इलेक्ट्रोन ट्यूबमा, हामीले इलेक्ट्रोनहरूको चालमा नयाँ इलेक्ट्रोडहरूको परिचयको प्रभाव अध्ययन गर्न आवश्यक छ, र हामीले विद्युतीय क्षेत्रको वितरण पनि जान्न आवश्यक छ। सामान्यतया, विद्युतीय क्षेत्रको वितरण पत्ता लगाउन, विश्लेषणात्मक विधि र सिमुलेशन प्रयोग विधि प्रयोग गर्न सकिन्छ। तर केही साधारण अवस्थामा मात्र विश्लेषणात्मक विधिद्वारा विद्युतीय क्षेत्र वितरण प्राप्त गर्न सकिन्छ। सामान्य वा जटिल इलेक्ट्रोड प्रणालीको लागि, यो सामान्यतया सिमुलेशन प्रयोगद्वारा निर्धारण गरिन्छ। सिमुलेशन प्रयोग विधिको बेफाइदा यो हो कि परिशुद्धता उच्च छैन, तर सामान्य इन्जिनियरिङ डिजाइनको लागि, यसले आवश्यकताहरू पूरा गर्न सक्छ।