LCP-21 हस्तक्षेप र विवर्तन प्रयोग उपकरण (कम्प्युटर नियन्त्रित)
उन्नत CCD रैखिक फोटोइलेक्ट्रिक सेन्सर प्रयोग गरेर, 11μm वा 14μm स्थानिय रिजोल्युसन र हजारौं पिक्सेलको साथ, प्रयोगात्मक त्रुटि सानो छ;विवर्तन प्रकाश तीव्रता वक्र एक तुरुन्तमा वास्तविक समयमा सङ्कलन गरिन्छ, र लगातार सङ्कलन गर्न सकिन्छ र गतिशील रूपमा प्रशोधन गर्न सकिन्छ;सङ्कलन गरिएको प्रकाश तीव्रता वितरण वक्रको अनुपात परम्परागत प्रकाश र गाढा पट्टीहरूमा अधिक भौतिक अर्थहरू छन्, र ग्राफिक्सहरू अधिक नाजुक र समृद्ध छन्;म्यानुअल प्रशोधन जस्तै एकत्रित कर्भहरू विभाजित गर्न आवश्यक छैन, र त्रुटिहरू र विकृतिहरू बेवास्ता गरिन्छ।डिजिटल फोटोइलेक्ट्रिक ग्याल्भानोमिटर बिन्दु द्वारा बिन्दु मापन गर्न प्रयोग गरिन्छ, र ह्यान्ड-अन सामग्री समृद्ध छ।
डाटा प्रोसेसिङ सफ्टवेयर शक्तिशाली छ, 12-बिट A/D क्वान्टाइजेसन, 1/4096 एम्प्लिच्युड रिजोलुसन, सानो प्रयोगात्मक त्रुटि, डिजिटल डिस्प्ले, र प्रत्येक फोटोसेन्सिटिभ तत्वको स्थानिय स्थिति र यसको प्रकाश भोल्टेज मान USB इन्टरफेसको सही मापन।
निर्दिष्टीकरणहरू
अप्टिकल रेल | लम्बाइ: 1.0 मि | |
अर्धचालक लेजर | ३.० मेगावाट @६५० एनएम | |
विवर्तन तत्व | एकल-स्लिट | स्लिट चौडाइ: ०.०७ मिमी, ०.१० मिमी, र ०.१२ मिमी |
एकल-तार | व्यास: 0.10 मिमी र 0.12 मिमी | |
डबल-स्लिट | स्लिट चौडाइ ०.०२ मिमी, केन्द्रीय स्पेसिङ ०.०४ मिमी | |
डबल-स्लिट | स्लिट चौडाइ ०.०७ मिमी, केन्द्रीय स्पेसिङ ०.१४ मिमी | |
डबल-स्लिट | स्लिट चौडाइ ०.०७ मिमी, केन्द्रीय स्पेसिङ ०.२१ मिमी | |
डबल-स्लिट | स्लिट चौडाइ ०.०७ मिमी, केन्द्रीय स्पेसिङ ०.२८ मिमी | |
ट्रिपल-स्लिट | स्लिट चौडाइ ०.०२ मिमी, केन्द्रीय स्पेसिङ ०.०४ मिमी | |
चौगुना-स्लिट | स्लिट चौडाइ ०.०२ मिमी, केन्द्रीय स्पेसिङ ०.०४ मिमी | |
पेन्टुपल-स्लिट | स्लिट चौडाइ ०.०२ मिमी, केन्द्रीय स्पेसिङ ०.०४ मिमी | |
फोटोसेल डिटेक्टर (विकल्प १) | ०.१ एमएम रिडिङ रुलर र एम्पलीफायर, ग्याल्भानोमिटरमा जोडिएको | |
CCD (विकल्प २) | ०.१ एमएम रिडिङ रुलर र एम्पलीफायर, ग्याल्भानोमिटरमा जोडिएको | |
सिंक्रोनाइजेसन/सिग्नल पोर्टहरू, ओसिलोस्कोपसँग जोडिएको | ||
CCD+सफ्टवेयर (विकल्प ३) | विकल्प 2 सहित | |
USB मार्फत पीसी प्रयोगको लागि डाटा अधिग्रहण बक्स र सफ्टवेयर |